X熒光光譜儀應用于地球化學樣品的成分分析

       隨著地球勘查工作的發(fā)展和區(qū)域地球化學調查工作的啟動,對地質實驗測試分析工作提出很多針對性要求,同時也面臨著復雜的分析檢測任務.地質實驗室分測試析的對象和任務要求分析測試方法具有檢出限低,檢測范圍寬,較高的準確度和精密度.地球化學樣品的成分分析方法有傳統(tǒng)的化學分析法,電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES),電感耦合等離子體質譜(ICP-MS),原子吸收光譜(AAS),X射線熒光光譜(XRF)法等.化學分析法雖然使用儀器簡單,但對操作技術的要求高,操作比較繁瑣,使用大量的酸堿等化學試劑,分析流程較長,很難滿足日常生產(chǎn)的需求.同樣ICP-AES,ICP-MS,原子吸收光譜法在樣品前處理過程中也常用大量化學試劑,造成環(huán)境污染.X射線熒光光譜儀EDX9000B具有樣品前處理簡單,分析周期短,重現(xiàn)性好,可同時測定多元素,測試成本低等優(yōu)點.由于XRF是表面分析技術,X射線的強度隨著樣品的粒度和樣品不均勻而變化產(chǎn)生顆粒效應,地質化探樣品成分復雜,組分含量低,樣品很難磨碎到500目以下,在粉末壓片XRF法中影響了測定的準確度和精密度.因此我們通過玻璃熔片法很好的解決了基體效應及礦物效應對測試的干擾，獲得了良好的檢測準確度和檢出限。