Simply the Best 美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數率 真空測試環境提供輕元素檢測效果 無損元素分析涵蓋11Na to 92U 適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿 多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限 堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

Simply the Best 美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數率 真空測試環境提供輕元素檢測效果 無損元素分析涵蓋11Na to 92U 適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿 多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限 堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

Simply the Best 美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數率 真空測試環境提供輕元素檢測效果 無損元素分析涵蓋11Na to 92U 適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿 多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限 堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數率 真空測試環境提供輕元素檢測效果 無損元素分析涵蓋11Na to 92U 適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿 多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限 堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數率 真空測試環境提供輕元素檢測效果 無損元素分析涵蓋11Na to 92U 適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿 多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限 堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

Simply the Best 先進制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器 真空光路配備薄膜濾光片技術，提高輕元素檢出限 可同時分析40種元素 可分析固體，液體，粉末和泥漿 進口X光管管芯提供可靠樣品激發性能 無損檢測，快速分析（1-2分鐘出結果） 無需化學試劑，無耗材，更環保，更高效