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X射線鍍層測厚儀

簡要描述:X射線鍍層測厚儀EDX8000T PLUS
>微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設計
>高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現(xiàn)快速,無損,高精度測量
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng),精確的點位測量功能有助于提高測量精度
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

  • 產(chǎn)品廠地:蘇州市
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-10-30
  • 訪  問  量:2437

詳細介紹

品牌英飛思價格區(qū)間20萬-50萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應用領域環(huán)保,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合

X射線鍍層測厚儀EDX8000T PLUS

>微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設計

>高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現(xiàn)快速,無損,高精度測量

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng),精確的點位測量功能有助于提高測量精度

>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

背景介紹

材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點是準確,快速,無損,操作簡單,測量速度快。可同時分析多達五層材料厚度,并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。

XRF鍍層測厚儀工作原理

鍍層測厚儀EDX8000T Plus是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10-30秒內(nèi)完成。

膜厚儀EDX8000T Plus產(chǎn)品特點

>全新的下照式一體化設計

>測試快速,無需樣品制備

>可通過內(nèi)置高清CCD攝像機來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸,污染或破壞被測物軟件配備距離補正算法,實現(xiàn)了對不規(guī)則樣品(如凹凸面,螺紋,曲面等)的異型的精準測試

>備有多種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品

>可覆蓋元素周期表Mg鎂到U

>SDD檢測器,具有高計數(shù)范圍和出色的能量分辨率

>自動切換準直器和濾光片0.15mm,0.2mm,0.3mm

膜厚儀EDX8000T Plus應用場景

>EDX8000T Plus鍍層測厚儀可以用于PCB鍍層厚度測量,金屬電鍍鍍層分析;

>測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學生成膜等

>可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度

>鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品

>鋼上鋅等防腐涂層

>電路板和柔性PCB上的涂層

>插頭和電觸點的接觸面

>貴金屬鍍層,如金基上的銠材料分析

>分析電子和半導體行業(yè)的功能涂層

>分析硬質(zhì)材料涂層,例如 CrNTiN TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能電鍍液離子濃度分析

技術參數(shù)

儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大樣品腔:460mm*310mm*95mm

儀器重量: 40Kg

元素分析范圍:Mg12-U92鎂到鈾可同時分析并測量24種元素

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

涂鍍層檢出限:0.005μm,可同時分析5層以上鍍層

成分分析含量范圍:5ppm-99.99%

探測器:AmpTek 高分辨率電制冷SDD Detector

多道分析器: 4096DPP analyzer

X光管:50W高功率微聚焦光管

準直器:Φ0.15mm,Φ0.2mm,Φ0.3mm,可選配0.1*0.2mm

高壓發(fā)生裝置:電壓最大輸出50kV,自帶電壓過載保護

電壓:220ACV 50/60HZ

樣品平臺:手動高精度移動平臺

樣品對焦:手動測距對焦

環(huán)境溫度:-10 °C 35 °C

膜厚儀EDX8000T Plus可分析的常見鍍層材料

可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應用:如Ag/Cu,Zn/FeCr/Fe, Ni/Fe

多涂鍍層應用:如Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/FeAu/Ni/Cu

合金鍍層應用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu

合金成分應用:如NiP/Fe, 同時分析鎳磷含量和鍍層厚度



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