Simply The Best 微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設計，可分析不規則樣品厚度 高計數率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現快速，無損，高精度測量 高分辨率樣品觀測系統，可移動高精度樣品平臺，準確快速定位測試點位 全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及單鍍層厚度和材料成分進行測量 搭載高精度手調X-Y平臺，使微區測量更便捷

材料的鍍層厚度是一個重要的生產工藝參數，鍍層厚度的控制在產品質量、過程控制、成本控制中都發揮著重要作用。英飛思開發的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優點是準確，快速，無損，操作簡單，測量速度快。可同時分析多達五層材料厚度，并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。